桌面型温度系统提供一种高度敏感，热传感路径，快速感应温度到 DUT 上。这种高可靠的系统使用一个专利的温度探头与被测的 IC 或其他器件直接连接，使用专利的、强力制冷技术进行温度循环测试，不用担心制冷能力不足。
产品优势
l 紧凑地占地空间：放置于桌面
l 独立的系统：不需要提供外部制冷机
l 简单的操作：空气和电力成本低廉
l 无液体操作：极快的温度循环速率
l 环保操作，防静电设计
l 可以集成到产线当中进行测试
l 温度传感器：DUT 表面\接口\散热器温度
l 以太网 (TCP/IP) 远程接口
l 支持 \RS232\RS485 通讯协议
l 适合测试表贴和过孔器件
l 可与市场上现在有的过孔器件结合
l 免维护
l 无振动
l 非常小的电能消耗
l 静音操作
l 可变的底座设计，用于未来产品的灵活变化
广泛应用于5G通信、半导体、芯片、传感器等领域。在最短的时间内检测样品，减少测试和验证时间，快速提高产品研发和生产效率，降低能耗。温度范围：-80℃~220℃,升温速率：-40℃~+85℃ 约10S,降温速率：+85℃~-40℃ 约10S
特点
1.获得国家专利，专利号：ZL201720299615.8
2.自主研发HAITUO控制系统，控温精准
3大屏显示10”TFT大彩屏，触控灵敏
4.防凝露测试罩，产品测试更安全
5多种控温形式，选择更灵活
6.低功耗节能达30%以上
7.可长久低温运行
8. 自带气源，无需另外配置空压机
线性15度快速温变试验箱广泛应用于汽车、IC、分立器件等行业，对试品在拟定条件下的性能作出分析及评估。本测试箱满足汽车电子标准：AECQ100以及JESD22A104F行业测试标准
温度范围与测试曲线
广泛应用于5G通信、半导体、芯片、传感器等领域。在最短的时间内检测样品，减少测试和验证时间，快速提高产品研发和生产效率，降低能耗。温度范围：-85℃~300℃,升温速率：-40℃~+85℃ 约10S,降温速率：+85℃~-40℃ 约10S
特点
1 节能设计 2 噪音低，大约 65 分贝 3 自主研发的控制系统，控温精确 4 大屏触控，操作方便 5长久低温运行无结霜 6 支持多种通讯接口 7支持本地/远程控制 8 支持空气/DUT 温度切换
接触式高低温设备是海拓自主研发的针对芯片可靠性测试的专用设备，通过测试头与待测器件直接贴合的方式实现能量传递，与传统气流式高低温设备（热流仪、温箱等）相比具有升降温效率高，操作简单方便，体积小巧，噪音低等特点。
CTC温度系统提供一种高度敏感，热传感路径，快速感应温度到DUT上。这种高可靠的系统使用一个专利的温度探头与被测的IC或其他器件直接连接，使用强力制冷技术进行温度循环测试，不用担心制冷能力不足。
CTC通过一个温度探头与过孔或表贴DUT直接连接，温度加压系统可以模拟DUT达到预计的温度，范围从-70℃～150℃。CTC通过一个热盘，可以用来同时测量多个DUT。 它可以集成到探头工作站、处理机、测试仪和系统。 CTC是一个独立的、仅需通电即可操作的系统，只需要提供交流电和纯净的干燥空气，用于低温测试中防止冷凝的发生。
可以测试任何集成电路、单块集成电路方面的 IC、芯片、微芯片、CPU、无线、高功率开关器件，包括硅晶圆和电子、半导体和电子器件。适合在电磁干扰环境下进行环境（高低温）测试。
特点
加速寿命试验机（HAST）广泛应用于集成电路/微电子/IC等领域，其试验目的是提高环境应力，如温度与工作应力施加给产品的电压/负荷等，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。用于调查分析被测试样品何时出现的磨耗和使用寿命的问题，使用寿命的故障。分布函数呈现什么样的形状，以及分析失效率上升的原因所进行的试验。
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