HAST加速寿命试验机

产品描述:

特点

加速寿命试验机(HAST)广泛应用于集成电路/微电子/IC等领域,其试验目的是提高环境应力,如温度与工作应力施加给产品的电压/负荷等,加快试验过程,缩短产品或系统的寿命试验时间。用于调查分析被测试样品何时出现的磨耗和使用寿命的问题,使用寿命的故障。分布函数呈现什么样的形状,以及分析失效率上升的原因所进行的试验。


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其他参数

1. 设定温度:105.0~150.0℃

2. 湿度范围:75%RH~100%RH  (可选长期做双85 )

3. 温度上升时间:≤100分钟(从室温到120°且湿度到达85%RH的时间)

4. 温度稳定时间:试验箱触摸屏显示温度稳定后(≤±2℃),5分钟内箱体内温度与目标温度偏差≤±2℃, 10分钟箱内温度整体稳定≤±2℃(空载)

5. 压  力: ******压力2kg/cm²

6. 压力工作范围:0.02~0.19MPa/相对压力

7. 时间范围: 0 Hr ~ 999 Hr

8. 加压时间: 0.00 Kg ~ 1.04 Kg / cm²约 45 分

9. 温度偏差:≤±1.5℃(空载)

10. 温度均匀度 : ≤±1.5℃(不带载)

11. 湿度偏差:当湿度≥75%RH、湿度偏差≤±3%RH;

  当湿度<75%RH、湿度偏差≤±5%RH;

12. 试验模式:HUM(不饱和:75%-100%湿度)测试模式/STD(饱和:100%湿度)测试模式

13. 压力波动均匀度 : ±0.1Kg

14. 湿度分布均度:±3 %RH

 

15. 隔层架:每个箱体配测试钢网(层板),钢网尺寸:≥W240×D400mm,负载:≥10KG,钢网数量:≥1个

 

    16. 噪音:距离设备1M距离 ≤75db

    17. 偏压测试端子耐压可达 3000V(选配)测试电压施加端子≥20个/单箱体(单个端子承载电压≥DC120V或电流 ≥1A,总功率≥25W)