加速寿命试验机

产品描述:

特点

加速寿命试验机(HAST)广泛应用于集成电路/微电子/IC等领域,其试验目的是提高环境应力,如温度与工作应力施加给产品的电压/负荷等,加快试验过程,缩短产品或系统的寿命试验时间。用于调查分析被测试样品何时出现的磨耗和使用寿命的问题,使用寿命的故障。分布函数呈现什么样的形状,以及分析失效率上升的原因所进行的试验。


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其他参数

    

HT-HAST-140

外箱尺寸(W×D×Hmm

1110x750 x1742

测试箱体尺寸Φ×Dmm

500×710140L

温度控制范围

+100 ℃~ +150 ℃( 蒸气温度 )

湿度控制范围

75100% RH(蒸气湿度)

湿度控制稳定度

±3% RH

压    力 

******压力2kg/cm2 

时间范围:

0 Hr ~ 999 Hr

加压时间

0.00 Kg ~ 1.04 Kg / cm2  约 45 分

温度波动均匀度

±0.5℃

温度显示精度

0.1℃

压力波动均匀度

±0.1Kg

湿度分布均度

±3 %RH

符合标准

GBISOASTMULCEN------

    

AC220V/230V/240V,50HZ,20A