近日从海拓传来消息，凭借多年的技术积累，产品不断迭代升级，其自主研发的HAST(高加速寿命试验机）性能指标进一步提升，在部分芯片、半导体头部制造企业得到了验证，并获得认可，实现了该领域的国产替代。

HAST加速寿命试验装置能够评估电子元器件、PCB、芯片产品等在高温，高湿，高气压条件下对环境的抵抗能力，通过加速其失效过程 ，加速因子在几十到几百倍之间，此类极端的加速模拟可靠性测试，便于确定产品或器件的极限工作条件，更容易提前发现产品失效模式，并且缩短产品或系统的寿命试验时间，为量产验证赢得时间。

此次海拓自主研发的HAST完全拥有自主知识产权（发明专利号：ZL2021 1 1559237.X），性能指标完全能够对标国外品牌，可提供单层、双层两款机型，UHAST BHAST两大系列。并且解决了此设备长期依赖进口，且进口设备交期长、（达6个月左右）价格高等问题。

HAST(高加速寿命试验机）的量产及验证对促进半导体量测行业发展，加速量测测试行业的国产替代起到重要作用，亦是海拓仪器自主研发的一大进展，期待未来的广泛应用和验证。